플라스틱 제품 수 기계적 특성의 범위를 전시 하 고 구성 요소 간의 대부분 변화는 생산 과정의 의도적인 결과, 제조 결함에 추적 될 수 있는 일부 편차가 있을 수 있습니다. 결함 수 변동 열 처리 온도, 결점, 또는 불일치의 품질에 성형 등 다른 요인의 숫자에서 파생 되는플라스틱 소재
. 열을 치료 하 고 일반적으로 성형에 문제 해결 매개 변수를 제조 및 제품의 제조의 각 단계를 통해 모니터링의 가까운 제어를 의미 합니다.
그러나, 평가의 특정 집합을 필요로 원시 플라스틱의 품질 또는 제품에서 플라스틱의 무결성을 보장 하 고플라스틱 검사방법입니다. 화학 및 물리적 특성 배치 원시 플라스틱 수 지 또는 섬유의 제조에 적합 한 인지 확인 하거나 성형된 플라스틱 제품의 소재 정확도 평가 하기 위해 시험 될 수 있다. 동안 원시 플라스틱은 일반적으로 일련의 형성 가능성에 대 한 화면을 테스트를 거쳐, 포스트 생산 품질 검사 일반적으로 의존 방법에는 속도 원하는 디자인의 친밀감에 따라 제품.
원료 검사
대부분 플라스틱 원료 수 지 또는 섬유 형태로 검사 품질 있습니다. 수 지, 주요 기준 등이 점도, 수 분 레벨, 색상, 연속 섬유의 인장 강도 대 한 자주 검사 하는 동안 있습니다. 적외선 또는 핵 자기 분광학 일반적으로 기본적인 화학 구조 및 오염 수준 식별 하는 데 사용 됩니다. 다른 표준 방법에는 습식된 화학 분석, 주요 산 또는 플라스틱 화합물에 에폭시 그룹을 보여, 그리고 액체 또는 젤 착 색 인쇄기, 평균 분자량 수 지 분자 중에서 체중 분배를 결정 하는 포함 됩니다.
크로마토그래피 기법은 분자량 및 분포는 플라스틱 재료의 점도 기계적 특성에 주요 영향 때문에 특히 유용할 수 있습니다. 폴 리 에스테에서 낮은 분자 중량 일반적으로 두껍게의 느린 속도에 따른 점도의 상부를 얻을 수 있습니다. 이 더 어려워질 수 있습니다 플라스틱 처리 또는 적절 한 정도로 진하게 엄청나게 긴. 수 분 레벨에는 두껍게 속도 영향을 수 있습니다.
초음파 검사는 플라스틱 재료 내에서 내부 결함 추적-고주파 음파를 사용 합니다. 전기 변환기 다음 물 등 별도 매체를 통해 플라스틱에 적용 되는 이러한 음파를 생성 합니다. 파도 소재와 그들이 발생 하는 결함에 따라 그들의 에너지 레벨 시프트를 통해 이동 합니다. 수신 변환기는 화면에 표시 되는 전기 신호로 반사 음파를 변환 합니다. 결과 다음 어떤 내부 결함을 식별 하기 위해 의도 된 디자인 특성을 비교할 수 있습니다. 초음파 검사를 더럽힐 수 있는 일반적인 결함은 다음과 같습니다.
• 큰 공 극
• 그룹 작은 공 극의
• 적 층 간격
• 오염 물질 또는 다른 외국 자료
방사선 검사
방사선 포함 플라스틱 구성 요소를 통해 방사선의 광선을 발사 하 고 녹음 때 그것은 다른 쪽을 통해 그것의 힘을 측정 한다. 물자를 통과 후 광선의 초기 강도와 강도 사이의 차이 개체에서 내부 결함을 결정 하기 위해 도움이 됩니다. 감마선은 두꺼운 재료에 대 한 더 효과적인 침투의 더 높은 학위를 제공 하기 때문에 표준 방법 사진 필름에 이미지 다음 기록 된 x-레이 사용 합니다. 플라스틱 결함 음영 또는 영화 이미지에 나타납니다. 방사선은 일반적으로 다음과 같은 결함을 탐지 하는 데 사용 됩니다.
• 큰 공 극
• Translaminar 골절
• 고르지 섬유 분포
• 오염 물질 또는 다른 외국 자료
• 고르지 섬유 패턴 및 주름
청각 검사
초음파 기술, 같은 음향 검사 방법은 소재 결함을 정확 하 게 음파를 사용 합니다. 그러나, 반사 된 음파를 전송 하는 대신 음향 미세한 손상의 지역에서 탄성 스트레스 배출량을 공개 하는 소리에 의존 합니다. 강화에플라스틱 합성작은 정도의 적용된 스트레스 음향 방출 검사 성형된 제품 내의 결함 위치를 매핑하는 데 사용 되는 배출 또는 손상 된 사이트 근처에 발생 합니다. 음향 방법을 통해 발견 될 수 있는 일반적인 결함은 다음과 같습니다.
• 미세한 균열
• 섬유 분리
• 섬유 매트릭스에서의 손실
• 섬유 파손
• 현지 박
음향 방출 재료의 표면에 특정 위치에 배치 하는 매우 중요 한 트랜스듀서에 의해 주워 수 있다. 스트레스 파도 표면 소요 될 때는 트랜스듀서는 전기 신호 출력을 기록 하 고 분석에 대 한 데이터를 저장.